mikroskop atómovej sily afm
Atomic Force Microscope (AFM), analytický prístroj, ktorý možno použiť na štúdium štruktúry povrchu pevných materiálov vrátane izolátorov.Študuje povrchovú štruktúru a vlastnosti látky detekciou extrémne slabej medziatómovej interakcie medzi povrchom vzorky, ktorá sa má testovať, a prvkom citlivým na mikrosilu.Bude dvojica extrémne citlivých mikrokonzolových koncov na slabú silu fixovaná, druhý koniec malého hrotu blízko vzorky, potom s ňou bude interagovať, sila spôsobí, že sa mikrokonzola deformuje alebo zmení stav pohybu.Pri skenovaní vzorky možno senzor použiť na detekciu týchto zmien, môžeme získať informácie o rozložení sily, aby sme získali informácie o povrchovej morfológii nano-rozlíšenia a informácie o drsnosti povrchu.
★ Integrovaná skenovacia sonda a vzorka zvyšujú schopnosť proti rušeniu.
★ Presné laserové a polohovacie zariadenie sondy zjednodušuje a uľahčuje výmenu sondy a nastavenie miesta.
★ Použitím spôsobu priblíženia vzorkovej sondy by mohla byť ihla kolmá na skenovanie vzorky.
★ Automatický impulzný motor na riadenie vzorkovej sondy sa približuje vertikálne, aby sa dosiahlo presné umiestnenie oblasti skenovania.
★ Oblasť skenovania vzorky sa mohla voľne pohybovať pomocou dizajnu vysoko presného vzorového mobilného zariadenia.
★ CCD pozorovací systém s optickým polohovaním dosahuje pozorovanie v reálnom čase a polohovanie oblasti skenovania vzorky sondy.
★ Návrh elektronického riadiaceho systému modularizácie uľahčil údržbu a neustále zlepšovanie obvodu.
★ Integrácia riadiaceho obvodu s viacerými režimami skenovania, spolupráca so softvérovým systémom.
★ Pružinový záves, ktorý jednoduchým a praktickým spôsobom zvyšuje odolnosť proti rušeniu.
| Pracovný režim | FM-odpich, voliteľný kontakt, trenie, fázové, magnetické alebo elektrostatické |
| Veľkosť | Φ≤90 mm,H≤20 mm |
| Rozsah skenovania | 20 mm v smere XY,2 mm v smere Z. |
| Rozlíšenie skenovania | 0,2 nm v smere XY,0,05 nm v smere Z |
| Rozsah pohybu vzorky | ± 6,5 mm |
| Šírka impulzu motora sa blíži | 10 ± 2 ms |
| Bod vzorkovania obrázka | 256 × 256,512 × 512 |
| Optické zväčšenie | 4X |
| Optické rozlíšenie | 2,5 mm |
| Rýchlosť skenovania | 0,6 Hz ~ 4,34 Hz |
| Uhol skenovania | 0°~360° |
| Kontrola skenovania | 18-bitové D/A v smere XY,16-bit D/A v smere Z |
| Vzorkovanie údajov | 14-bitA/D,dvojité 16-bitové A/D viackanálové synchrónne vzorkovanie |
| Spätná väzba | Digitálna spätná väzba DSP |
| Vzorkovacia frekvencia spätnej väzby | 64,0 kHz |
| Počítačové rozhranie | USB 2.0 |
| Operačné prostredie | Windows 98/2000/XP/7/8 |